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德國徠卡LEICA顯微鏡
徠卡8寸晶圓檢查及缺陷分析顯微鏡 - Leica DM8000M提供了全新的光學設計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品 時的產量。該機照明 基于**的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了
